筛选试验通常是在一系列短期环境应力加速下进行，通过非破坏性的试验方式，对整批电子元器件进行全批次筛选。这些环境应力可能包括高温、低温、湿度、机械振动等，以激发出产品潜在的设计和制造缺陷。 适用范围：电阻器；电容器；磁珠；电感器；变压器；晶体振荡器；晶体谐振器；继电器；半导体分立器件；电连接器；开关及面板元件；半导体集成电路；滤波器；电源模块；IGBT等。